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屏蔽箱隔離度測試方法介紹：



  1、檢測屏蔽隔離度設(shè)備：網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、偶極天線、喇叭天線、屏蔽箱。



  由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測試工藝由多個(gè)相同的測試站并行運(yùn)行。某個(gè)或某些測試工位的通過率偏低;產(chǎn)出降低就會導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設(shè)計(jì)或物料原因、測試的問題(誤測問題)、射頻干擾等環(huán)境因素、測試的不確定問題。



  電磁干擾/EMI是整個(gè)電子領(lǐng)域必須面臨和克服的一個(gè)問題，一般在無線通訊產(chǎn)品比如：手機(jī)、無線網(wǎng)卡、無線路由器、無線耳機(jī)、藍(lán)牙耳機(jī)、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對講機(jī)、RFID等等無線通訊類設(shè)備和無線通訊類模塊等在進(jìn)行板測、終測過程中，都是通過使用射頻測試屏蔽箱來改善測試環(huán)境的。



  2、測試標(biāo)準(zhǔn)、屏蔽概念：指模擬干擾源置于屏蔽箱外時(shí)，屏蔽箱置放前后的空間某點(diǎn)電場強(qiáng)度、磁場強(qiáng)度或功率之比再取對數(shù)(lgp1/p2)，用dB表示。



  如果要標(biāo)1500V隔離屏蔽，則1500V測試時(shí)輻射、屏蔽、絕緣電阻>300K，



  如果要標(biāo)3000V隔離屏蔽，則3000V測試時(shí)輻射、屏蔽、絕緣電阻>600K屏蔽箱隔離度測試方法介紹：



  1、檢測屏蔽隔離度設(shè)備：網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、偶極天線、喇叭天線、屏蔽箱。



  由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測試工藝由多個(gè)相同的測試站并行運(yùn)行。某個(gè)或某些測試工位的通過率偏低;產(chǎn)出降低就會導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設(shè)計(jì)或物料原因、測試的問題(誤測問題)、射頻干擾等環(huán)境因素、測試的不確定問題。



  電磁干擾/EMI是整個(gè)電子領(lǐng)域必須面臨和克服的一個(gè)問題，一般在無線通訊產(chǎn)品比如：手機(jī)、無線網(wǎng)卡、無線路由器、無線耳機(jī)、藍(lán)牙耳機(jī)、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對講機(jī)、RFID等等無線通訊類設(shè)備和無線通訊類模塊等在進(jìn)行板測、終測過程中，都是通過使用射頻測試屏蔽箱來改善測試環(huán)境的。



  2、測試標(biāo)準(zhǔn)、屏蔽概念：指模擬干擾源置于屏蔽箱外時(shí)，屏蔽箱置放前后的空間某點(diǎn)電場強(qiáng)度、磁場強(qiáng)度或功率之比再取對數(shù)(lgp1/p2)，用dB表示。



  如果要標(biāo)1500V隔離屏蔽，則1500V測試時(shí)輻射、屏蔽、絕緣電阻>300K，



  如果要標(biāo)3000V隔離屏蔽，則3000V測試時(shí)輻射、屏蔽、絕緣電阻>600K
屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能測試或性能測試是安裝的最后階段，這也可能是最重要的階段。不幸的是，測試過程被認(rèn)為是麻煩的或在某種程度上被認(rèn)為是不可思義,事實(shí)上，屏蔽室的測試標(biāo)準(zhǔn)是一致的。

主要的區(qū)別在于測試所用的設(shè)備不同。

事實(shí)上，屏蔽效能測試很簡單，并與MIL-STD-220也就是插入損耗測試標(biāo)準(zhǔn)是一致的。主要的區(qū)別在于測試所用的設(shè)備不同。
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屏蔽房屏蔽效能測試基本同于電子測試設(shè)備的校準(zhǔn)。與測試設(shè)備一樣，當(dāng)小型屏蔽房的屏蔽效能降低時(shí)就需要對其進(jìn)行校準(zhǔn)。當(dāng)校準(zhǔn)屏蔽房或測定屏蔽暗室的屏蔽效能時(shí)，要使用輻射測試技術(shù)。所幸的是美國軍方和安全部門已建立了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)描述了特定頻率和測試場地條件下的測試方法、設(shè)備和測試過程。這些測試過程經(jīng)過微小的調(diào)整，就能應(yīng)用于任何屏蔽房的安裝，并滿足用戶要求。

測試屏蔽效能最經(jīng)常用到的兩個(gè)測試標(biāo)準(zhǔn)或測試程序是MIL-STD-285和NSA65-6。這些文件描述了對設(shè)備配置和測試場地的要求。每個(gè)程序中也規(guī)定了測試頻率和衰減量。
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