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屏蔽箱隔離度測試方法介紹：



  1、檢測屏蔽隔離度設備：網(wǎng)絡分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、偶極天線、喇叭天線、屏蔽箱。



  由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測試工藝由多個相同的測試站并行運行。某個或某些測試工位的通過率偏低;產(chǎn)出降低就會導致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設計或物料原因、測試的問題(誤測問題)、射頻干擾等環(huán)境因素、測試的不確定問題。



  電磁干擾/EMI是整個電子領域必須面臨和克服的一個問題，一般在無線通訊產(chǎn)品比如：手機、無線網(wǎng)卡、無線路由器、無線耳機、藍牙耳機、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對講機、RFID等等無線通訊類設備和無線通訊類模塊等在進行板測、終測過程中，都是通過使用射頻測試屏蔽箱來改善測試環(huán)境的。



  2、測試標準、屏蔽概念：指模擬干擾源置于屏蔽箱外時，屏蔽箱置放前后的空間某點電場強度、磁場強度或功率之比再取對數(shù)(lgp1/p2)，用dB表示。



  如果要標1500V隔離屏蔽，則1500V測試時輻射、屏蔽、絕緣電阻>300K，



  如果要標3000V隔離屏蔽，則3000V測試時輻射、屏蔽、絕緣電阻>600K屏蔽箱隔離度測試方法介紹：



  1、檢測屏蔽隔離度設備：網(wǎng)絡分析儀、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、偶極天線、喇叭天線、屏蔽箱。



  由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測試工藝由多個相同的測試站并行運行。某個或某些測試工位的通過率偏低;產(chǎn)出降低就會導致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設計或物料原因、測試的問題(誤測問題)、射頻干擾等環(huán)境因素、測試的不確定問題。



  電磁干擾/EMI是整個電子領域必須面臨和克服的一個問題，一般在無線通訊產(chǎn)品比如：手機、無線網(wǎng)卡、無線路由器、無線耳機、藍牙耳機、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對講機、RFID等等無線通訊類設備和無線通訊類模塊等在進行板測、終測過程中，都是通過使用射頻測試屏蔽箱來改善測試環(huán)境的。



  2、測試標準、屏蔽概念：指模擬干擾源置于屏蔽箱外時，屏蔽箱置放前后的空間某點電場強度、磁場強度或功率之比再取對數(shù)(lgp1/p2)，用dB表示。



  如果要標1500V隔離屏蔽，則1500V測試時輻射、屏蔽、絕緣電阻>300K，



  如果要標3000V隔離屏蔽，則3000V測試時輻射、屏蔽、絕緣電阻>600K
屏蔽室或屏蔽暗室的屏蔽效能測試或性能測試是安裝的最后階段，這也可能是最重要的階段。不幸的是，測試過程被認為是麻煩的或在某種程度上被認為是不可思義,事實上，屏蔽室的測試標準是一致的。

主要的區(qū)別在于測試所用的設備不同。

事實上，屏蔽效能測試很簡單，并與MIL-STD-220也就是插入損耗測試標準是一致的。主要的區(qū)別在于測試所用的設備不同。
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屏蔽房屏蔽效能測試基本同于電子測試設備的校準。與測試設備一樣，當小型屏蔽房的屏蔽效能降低時就需要對其進行校準。當校準屏蔽房或測定屏蔽暗室的屏蔽效能時，要使用輻射測試技術。所幸的是美國軍方和安全部門已建立了相應的標準。這些標準描述了特定頻率和測試場地條件下的測試方法、設備和測試過程。這些測試過程經(jīng)過微小的調(diào)整，就能應用于任何屏蔽房的安裝，并滿足用戶要求。

測試屏蔽效能最經(jīng)常用到的兩個測試標準或測試程序是MIL-STD-285和NSA65-6。這些文件描述了對設備配置和測試場地的要求。每個程序中也規(guī)定了測試頻率和衰減量。
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