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深圳市鴻怡電子有限公司

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SDM表面貼裝器件測(cè)試治具 SMD-4PIN晶振老化測(cè)試座 LOC封裝測(cè)試架
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TO99(圓4-8)老化測(cè)試座運(yùn)算放大器傳感器類功能校驗(yàn)測(cè)試
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TO263-5L翻蓋測(cè)試座功率器件芯片老化測(cè)試失效性分析批量極限驗(yàn)證
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QFN32(5x5)-0.5測(cè)試座非標(biāo)芯片調(diào)試燒錄老化老練測(cè)試PMIC功率器件
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LCC146-1.0-35x44芯片測(cè)試座用于IoT調(diào)試以及射頻性能驗(yàn)證
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BGA272閃存測(cè)試夾具SM2246EN主控一拖二翻蓋測(cè)試座SSD測(cè)試治具
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QFN92-0.35老化座收發(fā)單片機(jī)MCU測(cè)試燒錄老煉等失效性分析連接器
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TO220\/247ATE測(cè)試座用于IGBT芯片finaltest高速自動(dòng)化上下料老化
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QFN82(8*8)-0.35芯片測(cè)試座用于老化老煉燒錄性能調(diào)試失效分析
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QFN104芯片測(cè)試座0.35mm間距10x10mm尺寸老化測(cè)試燒錄IC
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LCC48-1.0收發(fā)光模塊測(cè)試座支持10Gbps即VCSEL陣列低功耗高速數(shù)據(jù)
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MSOP10轉(zhuǎn)DIP10老化測(cè)試座帶板編程燒錄座鍍金耐高溫0.5間距
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QFN88-0.35下壓老化座支持V831AICameraSoC芯片8x8mm老化測(cè)試
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QFN40-0.5微小型測(cè)試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測(cè)試
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DFN6-0.65-2x2芯片燒錄座用于此類芯片固件燒錄調(diào)試校驗(yàn)測(cè)試
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定制QFJCLCC24帶引腳陶瓷芯片載體測(cè)試夾具EPROM讀寫座老化測(cè)試座
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PLCC28-1.27-12.45x12.45燒錄座老化座IC燒錄編程測(cè)試座可靠測(cè)
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QFP100-0.65翻蓋老化座國產(chǎn)替代本體尺寸14x20帶腳17.9x23.9mm
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WLCSP6-0.4測(cè)試座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化驗(yàn)證
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公司簡(jiǎn)介
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   深圳鴻怡電子有限公司專業(yè)研制、開發(fā)、生產(chǎn)各類IC的Burn-in Socket、Test Socket及各類IC測(cè)試治具,向客戶提供專業(yè)的集成電路測(cè)試、燒錄、老化試驗(yàn)等的連接解決方案;專業(yè)研制、開發(fā)、生產(chǎn)各類高性能、低成本的Burn-in Test Socket及各類IC測(cè)試治具,適用于多種封裝:BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP
一、定制SOCKET相關(guān)的端子板
二、定制U盤的BGA座:BGA100/107/149/152及 共同的方案板。
三、定制EMMC(BGA/153/189)及LGA52/60測(cè)試座
四、需要測(cè)FLASH的產(chǎn)品治具,IC測(cè)試,BGA植球,芯片測(cè)試架,U盤測(cè)試架,測(cè)試架,燒錄座,老化座,返修,電腦主板,內(nèi)存條測(cè)夾具,顯卡,顯存測(cè)試夾具,DDR3測(cè)試架攝像IC測(cè)試座
手機(jī)、藍(lán)牙、GPS、DDR內(nèi)存芯片測(cè)試夾具
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