EL缺陷測(cè)試儀

· 【設(shè)備用途】

· 該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú),如隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。

· 【設(shè)備簡(jiǎn)介】

· 1、核心部件（紅外像機(jī)）采用日本原裝進(jìn)口整件，610萬(wàn)像素； 2、采用日本進(jìn)口鏡頭，可有效調(diào)節(jié)聚焦位置，大大提高圖片清淅度； 3、全封閉光路設(shè)計(jì)，確保檢測(cè)儀長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，對(duì)環(huán)境適應(yīng)能力更強(qiáng)； 4、整機(jī)設(shè)備人性化設(shè)計(jì)，軟件操作簡(jiǎn)捷明了。 

        參數(shù)及說(shuō)明