美國KK/GE 原裝進口MSEB5雙晶直探頭
主要應(yīng)用：
通常：近表面的小缺陷探測和評估。焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測。剩余壁厚的測量（即使在高溫情況下）。
l 壁厚余量，銹蝕、腐蝕
l 近表缺陷檢測
l 小零件—螺釘，螺栓，銷釘
l 覆層和堆焊層
l 粘接檢測
l 軸，桿，方坯芯部缺陷
l 粗晶材料
MSEB..和MSEB.. O°系列探索頭特點：
常用于所有類型小零件（如螺桿、螺釘、螺母、銷釘、軸承環(huán)、軸承和裝配材料）的檢測。
他們也可用于壁厚和剩余壁厚的測量（如被腐蝕和侵蝕的管子、容器和機械零件）。
具體型號有：MSEB2、MSEB2-EN、MSEB4、MSEB4-EN、MSEB4- O°、MSEB5美國GE原裝進口WB60-1-EN單晶體斜探頭
用于由非合金或低合金鋼制成的大物體檢測（如厚壁容器、轉(zhuǎn)軸、所有厚焊接件）。WK..探頭產(chǎn)生非常短的回波脈沖。具體型號：WB 45-1，WB 45-1-EN，WB 45-O1，WB 60-1，WB 60-1-EN，WB 60-O1，WB 70-1，WB 70-1-EN，WB 70-O1，WB 35-2，WB 35-2-EN，WB 35-O2，WB 35-O2EN，WB 45-2，WB 45-2-EN，WB 45-O2，WB 45-O2EN，WB 60-2，WB 60-2-EN，WB 60-O2，WB 60-O2EN，WB 70-2，WB 70-2-EN，WB 70-O2，WB 70-O2EN，WB 80-2，WB 80-2-EN，WB 80-O2，WB 90-2，WB 90-2-EN，WB 90-O2，WB 35-4，WB 35-O4，WB 45-4，WB 45-4-EN，WB 45-O4，WB 60-4，WB 60-4-EN，WB 60-O4，WB 70-4，WB 70-4-EN，WB 70-O4，WB 80-4，WB 80-O4，SWB 45-2，SWB 60-2，SWB 70-2，SWB 45-5，SWB 60-5，SWB 70-5
