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德國HG磁性表座105559用于半導(dǎo)體設(shè)備制造測(cè)量

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產(chǎn)品價(jià)格: 3600/人民幣 
最后更新: 2025-06-23 22:20:15
產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
發(fā)貨地: 北京 (發(fā)貨期:當(dāng)天內(nèi)發(fā)貨)
供應(yīng)數(shù)量: 不限
有效期: 長期有效
最少起訂: 1
瀏覽次數(shù): 48
詢價(jià)  家家通會(huì)員產(chǎn)品
  • 公司基本資料信息
    • 北京漢達(dá)森機(jī)械技術(shù)有限公司
    • 李經(jīng)理先生 銷售經(jīng)理
    • 會(huì)員[家家通會(huì)員產(chǎn)品]
    • 郵件sales24@handelsen.cn
    • 手機(jī)18519813516
    • 電話
    • 傳真
    • 地址北京市順義區(qū) 金關(guān)北二街3號(hào)旭輝空港中心 C-1035
    • 進(jìn)入商鋪
     
    產(chǎn)品詳細(xì)說明

    德國HG磁性表座105559用于半導(dǎo)體設(shè)備制造測(cè)量

    鎖模力產(chǎn)生 :液壓

    物料:陽極氧化鋁拋光易切削鋼  塑料星形旋鈕
    球關(guān)節(jié)臂 : M6內(nèi)螺紋
    球關(guān)節(jié)腳 : M10外螺紋
    保持力的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用 :6KG
    保持電源安全相關(guān)應(yīng)用:4KG
    L1 :254mm
    L2 :296mm
    半徑:550mm
    標(biāo)準(zhǔn)磁鐵(LxWxH):80x50x55 mm
    粘合力標(biāo)準(zhǔn)磁鐵 :1000 N可切換

    測(cè)量臺(tái) :直徑8mm H7和燕尾

    精密測(cè)量與定位
    晶圓尺寸測(cè)量:在半導(dǎo)體制造中,晶圓的尺寸精度至關(guān)重要。將百分表或千分表通過 HG 磁性表座 105559 固定在晶圓檢測(cè)設(shè)備上,能精確測(cè)量晶圓的直徑、厚度等參數(shù),確保晶圓符合生產(chǎn)工藝要求。由于磁性表座具有穩(wěn)定的吸附力和靈活的調(diào)節(jié)功能,可快速準(zhǔn)確地將測(cè)量表頭定位到晶圓的特定位置,提高測(cè)量效率和精度。
    芯片封裝定位:在芯片封裝過程中,需要將芯片精確地放置在封裝框架或基板上。HG 磁性表座可固定光學(xué)定位系統(tǒng)或微型傳感器,對(duì)芯片和封裝載體進(jìn)行精確的位置檢測(cè)和校準(zhǔn),確保芯片封裝的精度和質(zhì)量,減少封裝偏差,提高產(chǎn)品的可靠性。
    設(shè)備調(diào)試與校準(zhǔn)
    光刻機(jī)校準(zhǔn):光刻機(jī)是半導(dǎo)體制造中的核心設(shè)備,其光路系統(tǒng)和曝光平臺(tái)的精度直接影響芯片的光刻質(zhì)量。HG 磁性表座可用于固定激光干涉儀、角度測(cè)量儀等校準(zhǔn)儀器,方便在光刻機(jī)調(diào)試過程中對(duì)光路的準(zhǔn)直度、曝光平臺(tái)的平整度和運(yùn)動(dòng)精度等進(jìn)行精確測(cè)量和校準(zhǔn),保證光刻機(jī)的高性能運(yùn)行。
    刻蝕設(shè)備調(diào)試:刻蝕工藝需要精確控制刻蝕深度和均勻性。通過 HG 磁性表座將深度測(cè)量儀或表面輪廓儀固定在刻蝕設(shè)備的腔室內(nèi),可在設(shè)備調(diào)試和工藝優(yōu)化過程中,實(shí)時(shí)測(cè)量刻蝕后的晶圓表面形貌,為刻蝕工藝參數(shù)的調(diào)整提供準(zhǔn)確依據(jù),確??涛g工藝的穩(wěn)定性和一致性。
    質(zhì)量檢測(cè)與監(jiān)控
    晶圓表面缺陷檢測(cè):在晶圓制造過程中,需要檢測(cè)晶圓表面的微小缺陷,如劃痕、顆粒等。HG 磁性表座可固定顯微鏡或視覺檢測(cè)系統(tǒng),通過靈活調(diào)整檢測(cè)設(shè)備的位置和角度,對(duì)晶圓表面進(jìn)行全面、細(xì)致的檢測(cè),及時(shí)發(fā)現(xiàn)表面缺陷,有助于提高晶圓的良品率。
    薄膜厚度測(cè)量:半導(dǎo)體器件制造中會(huì)涉及多種薄膜的沉積工藝,薄膜厚度的均勻性和準(zhǔn)確性對(duì)器件性能有重要影響。利用 HG 磁性表座固定薄膜厚度測(cè)量儀,如橢偏儀或臺(tái)階儀,可方便地對(duì)晶圓上不同位置的薄膜厚度進(jìn)行測(cè)量和監(jiān)控,確保薄膜厚度符合工藝要求,為工藝調(diào)整提供數(shù)據(jù)支持
    德國HG磁性表座105559用于半導(dǎo)體設(shè)備制造測(cè)量

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