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四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻,適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進(jìn)行測量。
測試參數(shù):電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀,可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻,適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求,也可對分立電阻進(jìn)行測量。
專用四端探針測試線!
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