波長范圍:360nm-1050nm

  快速全自動量測 

  精密量測膜厚及折射率 

     各種功能材料的光學(xué)常數(shù)測量和光譜特性分析 

  15Å~至幾個(gè) um（依賴何種材料）

 橢貨參數(shù)精度:  ≦0.01for Tan (ψ);  ≦0.01 for Cos (Δ)

 直接測量透明基板上之鍍膜，無需基板背面處理或染黑

 與工研院長期的合作來往建立的光學(xué)基礎(chǔ)，同時(shí)引進(jìn)美國、法國、日本、德國等先進(jìn)技術(shù)，并與不同業(yè)界客戶交流的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)，因此相當(dāng)了解客戶的需求與困擾，所以無論在硬件與軟件或是分析應(yīng)用，都能滿足客戶的需求，目前國內(nèi)外也有相當(dāng)多的實(shí)績。 

   高質(zhì)量之光學(xué)與電動元件，無需防震桌。 

   燈泡更換容易，客戶可自行操作，無需校正。 

      FFT-在應(yīng)用分析上，可除了橢圓儀原本的回歸分析，還增加了傅利葉的分析方式，可針對不同的材料與厚度使用，User使用上更為便利與快速.

     具有Analyzer Tracking功能，可大幅提升量測精度，與PEM之效果相同。

   可搭配反射儀使用，可于日后Upgrade

   可量測透明基板，無需背后處理。 

   可Upgrade為 in line量測設(shè)備。

   采用美國進(jìn)口光譜儀，量測速度快。

   使用步進(jìn)馬達(dá)并非Rotating Polarizer，避免馬答損壞。 

      固定量測角度-70度，可避移動時(shí)所造成的量測誤差與機(jī)械損害(光學(xué)儀器都應(yīng)減少移動)。 

      產(chǎn)品性價(jià)比極佳，質(zhì)量與量測能力可達(dá)甚至超越國外儀器之水平，公司備有DEMO儀器，可供客戶實(shí)施操作比較。

      應(yīng)用：量測LED外延片、觸摸屏鍍層的厚度和折射率等參數(shù)。