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近場探頭
近場探頭用于配合頻譜分析儀或EMI接收機EM5080系列查找干擾源。在認證機構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準的天線進行輻射泄露測試，都是進行的遠場測量。標準的遠場輻射泄漏測試，可以準確定量的告訴我們被測件是否符合相應的 EMI 標準。但是遠場測試無法告訴工程師，嚴重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。
EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價比近場探頭?？捎脕頇z測器件表面的磁場方向以及強度；檢測磁場耦合的通道，從而調(diào)整連接器位置；檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現(xiàn)定位功能。通過配合優(yōu)測的EM5020 前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。大大的減少產(chǎn)品的研發(fā)周期，減少往返實驗室的時間和金錢，減少不必要的錯誤測試。EM5030 近場探頭就是解決問題的最好利器！
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【近場探頭產(chǎn)品規(guī)格】
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【 前置放大器規(guī)格】
EM5020B放大器
近場探頭EM5030/EM5030LF，是兩款主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，EM5030LF的頻率范圍是1MHz-50MHz。 當產(chǎn)品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產(chǎn)品中哪個元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾。EM5030/EM5030LF是一種磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），可以精確定位磁場干擾源。當干擾信號比較弱時，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測試靈敏度。
