WaveDriver200雙恒電位儀 產(chǎn)品簡介：
產(chǎn)品型號：WaveDriver200
品牌：美國PINE
產(chǎn)地：美國 PINE公司推出新一代WaveDriver200恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計，可以用于兩電極、三電極、四電極模式，具有交流阻抗功能（EIS），可以廣泛地應(yīng)用于燃料電池、鋰電池、太陽能電池、隔膜、超級電容器、傳感器、涂層、緩蝕劑、物理化學(xué)等研究領(lǐng)域，經(jīng)典應(yīng)用為旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極（RRDE）測試。
主要特點： 高性價比、雙恒電位儀（四電極模式）、RRDE測試功能強(qiáng)大（6種測量模式）、EIS交流阻抗測試功能強(qiáng)大、軟件功能強(qiáng)大（可建測試模板、可編程測試等）。
詳細(xì)介紹：
接線：兩電極、三電極、四電極模式 具備浮地功能
小電壓分辨率：78 μV
小電流分辨率：3.13 pA
轉(zhuǎn)換速率：快 10 V/μs
紋波噪聲：＜10 mVRMS
模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器：16 bit
順從電壓：±17V
泄漏電流：＜10 pA
帶寬（3 dB）：＞15 MHz
大采樣點：1000萬個/每次實驗
儀器尺寸：160（寬）*255（高）*324（長）mm
儀器重量：4.6 kg
IR補償：交流阻抗法（EIS）、電流中斷法（CI）、正反饋法（PF）

EIS交流阻抗參數(shù)
交流阻抗頻率范圍：100 μHz-1 MHz
頻率精度：±10 ppm
數(shù)據(jù)曲線：Lissajous、Bode、Nyqusit、 Mott-Schottky
數(shù)據(jù)模型：Circuit fit、Transmission line、Kramers-Kronig Circuit fitting方法：修正的Levenberg-Marquardt法、Simplex法、Powell法
Circuit fitting選項：動態(tài)選擇點、單位和參數(shù)
掃描方式：線性、對數(shù)、自定義
RRDE測試方法 Rotating Ring-Disk Voltammetry 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法（RRDE）。
RRDE方法包含6種測試模式，功能強(qiáng)大。
盤電極設(shè)置CV或LSV方法，環(huán)電極設(shè)置恒電壓CA方法；
盤電極設(shè)置恒電壓CA方法，環(huán)電極設(shè)置CV或LSV方法；
盤和環(huán)電極同時設(shè)置CV或LSV方法； 盤電極和環(huán)電極同時設(shè)置CV或LSV方法，但是呈鏡像測試；
盤電極設(shè)置CV方法，環(huán)電極設(shè)置恒電流CP方法；
盤電極設(shè)置恒電流CP方法，環(huán)電極設(shè)置CV方法。

電壓參數(shù)
大施加電壓：±15 V
準(zhǔn)確性：±0.2（設(shè)定電壓）、±0.05（測量電壓）
電壓量程：3檔（±2.5 V, ±10 V, ±15 V）
電壓分辨率：
對應(yīng)上述3檔量程分別為78 μV/bit、313 μV/bit和469 μV/bit 電流參數(shù)
大施加電流：±1 A
適用電流工作范圍：±20 pA到±1 A
準(zhǔn)確性：±0.2（設(shè)定電流）、±0.05（測量電流）
電流量程：8檔（從±100 nA到±1 A）
電流分辨率：0.0031
電化學(xué)方法
開路電位法（OCP）
電解法（BE）
循環(huán)伏安法（CV）
線性掃描伏安法（LSV)
光譜電化學(xué)測試方法（SPECE）
階躍伏安法（SCV）
計時電流法/恒電位法（CA)
雙電位階躍計時電流法(DPSCA) 循環(huán)階躍計時電流法（CSCA）
計時電位法（CP）
斜坡計時電位法（RCP）
階躍計時電位法（SCP）
循環(huán)階躍計時電位法（CSCP）
差分脈沖伏安法（DPV）
方波循環(huán)伏安法 （SWV）
常規(guī)脈沖伏安法（NPV）
旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法
腐蝕電化學(xué)方法
WaveDriver200雙恒電位儀