液晶模組第一品牌【松山，彭先生，13316870572】業(yè)務(wù)范圍包括：字符型模塊、圖形點(diǎn)陣模塊、彩色TFT模塊，在提供標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品同時(shí)，我們也具備根據(jù)客戶需要設(shè)計(jì)開發(fā)定制特殊用途和規(guī)格產(chǎn)品的能力。

　　如果像素是storage on gete的設(shè)計(jì)，可先用激光將TFT與像素電極的連接切斷，再在儲(chǔ)存電容處，以激光熔接將此像素電極與前一條掃描線連接在一起，所以此像素電極的電壓大部分時(shí)間是掃描線關(guān)閉TFT的負(fù)電壓，因此可在normally white型的TFT LCD面板上寫入電壓，而變成一個(gè)暗點(diǎn)缺陷。

　　像素電極若與掃描線短路，則不論write cycle所寫入的電荷為何，在讀出時(shí)變成是以掃描線電壓源提供電流送入電荷感測(cè)電路。這種缺陷，在normally white型的TFT LCD面板上，由于該像素電極與共電極之間一直相差了一個(gè)大的負(fù)電壓，因此形成一個(gè)暗點(diǎn)缺陷。

　　另外，靜電保護(hù)的方式也會(huì)影響這個(gè)測(cè)試方法的可行性，如果是以所述的保護(hù)方式將信號(hào)線短路，顯示屏模組便無法分辨出電荷來源來判斷缺陷像素的位置。因此，在設(shè)計(jì)TFT LCD面板像素陣列之外的部分，要同時(shí)考慮靜電保護(hù)與測(cè)試方法。

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